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Werth TomoScope L X射线断层扫描复合测量中心

TOMO系列X-CT复合式三坐标测量机,即X射线断层扫描复合测量中心,将X射线扫描成像技术整合到三坐标测量系统,实现产品无损可视化准确测量,并可选配光学、光纤、接触式探针、激光等多种传感器。

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Werth将X射线扫描成像技术整合到三坐标测量系统,实现产品无损可视化准确测量,并可选配光学、光纤、探针、激光扫描等多种传感器。X射线断层扫描复合测量中心,对工件内外部所有结构尺寸全面的精密测量,同时可实现工件材质的缺陷分析。可对塑料、陶瓷、复合材料、金属等多种材质制成的产品进行无损尺寸测量和装配评估等。压缩测量周期的同时,保证了高品质的要求。

X射线扫描成像技术整合到三坐标测量系统

Tomo测量机(X射线断层扫描复合测量中心)主要特点:

◆ 将X射线断层扫描成像技术整合到三坐标测量系统,实现复杂部件高精度内外尺寸全面测量
◆ 可选配第二个Z轴,配置其他传感器(光学、探针、光纤、激光等)
◆ Werth企业所有技术复合式传感器技术,进一步保证 CT测量数据更准确
◆ 坚固的花岗岩基座,保证机器具有高稳定性
◆ 精密机械轴承技术及线性导轨系统,确保实现高精度的测量
◆ 无论从设计还是结构,测量机完全满足并超出X射线使用安全标准
◆ 基于Werth企业优异的图形处理及3D重构技术,测量速度更快
◆ Werth企业的X射线传感器独自校准系统
◆ Werth企业的栅格断层扫描技术:
  精密测量微小部件
  扫描更大尺寸工件,提高分辨率
  扩展测量范围
◆ 测量App可快速3D重构,也可进行2D测量
◆ 测量工件内部尺寸的同时,也可实现材质缺陷分析
◆ 选用全球广泛应用的WinWerthApp (德国国家计量院PTB长度标准认证) ,界面友好,操作简单
◆ 可使用Bestfit及公差拟合TolerancefitApp进行轮廓匹配分析及三维CAD工件公差比对
◆ 广泛应用于复杂尺寸测量,首件评估,逆向工程,质量控制等
复合三坐标测量中心的机械结构简图 系统集成多种传感器技术

扫描坐标测量过程:

断层扫描坐标测量流程图

应用领域:

  模具行业、逆向工程、汽车行业、航空航天、精密机械加工、船舶、等等。

X-CT复合式三坐标测量机的各种工业应用

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