要检查的层越薄,检测器的选择就越重要。 FISCHERSCOPE?X-RAY XDAL?系列包含几个不同的模型。 PIN检测器可用于材料分析和涂层厚度测量。 如果需要超高精度分析,则硅漂移检测器是很好的选择。
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特征? 通用仪器,用于自动测量薄膜和超薄薄膜(<0.05μm),以及用于ppm级范围内的材料分析? 带钨阳极的微聚焦管 ? 3倍可更换初级过滤器 ? 4倍可更换光圈 ? 不同半导体检测器的选件(硅PIN检测器; SDD 20mm?; SDD 50mm?) ? 完全保护的仪器,根据德国辐射防护法获得型式认可 |
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带有50mm?硅漂移检测器的版本也适用于RoHS测量。 |
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