js金沙所有登入网址 > 产品中心> 理化分析> 光谱仪> 德国菲希尔X射线分析仪FISCHERSCOPE X-RAY XDV -SDD

德国菲希尔X射线分析仪FISCHERSCOPE X-RAY XDV -SDD

XDV-SDD型仪器是FISCHER产品中性能非常强大的X射线荧光仪器之一。它配备了特别加大的硅漂移探测器(SDD)。50mm?的探测器窗口确保能快速而精确地测量甚至是小面积的测量点。

QQ在线咨询
联系方式企业电话:86(21)50473900
企业传真:86(21)50473901
销售顾问:李经理
销售电话:18621180929
邮箱:Info@labgages.com
咨询时间:09:00-17:45

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD


FISCHERSCOPE®X-RAY XDV-SDD系列是Fischer的高级产品线之一。 它配备了具有高能量分辨率的硅漂移检测器。 结合大口径,XDV-SDD系列可实现出色的测量结果。 大型,易于接近的测量室使其既适用于组件上的fl的测量,也适用于几何形状复杂的大型样品。


FISCHERSCOPE  X-RAY XDV -SDD是Fischer强大的X射线设备之一。它的硅漂移检测器对轻元素的X射线辐射很敏感。这允许非常低的检测限以及与NiP,RoHS和非常薄(<0.05 ?m)的薄膜有关的测量应用。这就是XDV -SDD在研发,实验室和过程认证设置中表现出色的原因。另外,它的易用性使其在生产控制中很重要。
NiP / Fe:P浓度和层厚
钝化层:Cr / Zn / Fe
XDV-SDD系统特别适合于痕量分析和污染物限值的快速监控。例如,在塑料中,它可以用来检测关键化学元素,例如Pb,Hg和Cd,其检测限仅为几ppm。

特点:

● 配备了高性能的X射线管和大窗口的硅漂移探测器(SDD),能高精度地测量很薄的镀层
● 很耐用的设计结构,能以非常出色的长期稳定性用于连续测量
● 可编程XY平台和Z轴,用于自动化连续测量
● 拥有实时的视频显示和辅助激光点,使得样品定位变得快速而简便

应用

镀层厚度测量
? 测量非常薄镀层,如电子和半导体产业中厚度小于0.1um的Au和Pd镀层
? 测量汽车制造业中的硬质涂层
? 光伏产业中的镀层厚度测量

材料分析

? 电子、包装和消费品中按照RoHS, WEEE, CPSIA等指令对有害物质(如重金属)进行鉴别
? 分析黄金和其他贵金属及其合金
? 测定功能性镀层的组分,如NiP镀层中的P含量

相关产品
SPECTRO xSORT 手持式X射线荧光光谱仪
SPECTROTEST便携式光谱仪
SPECTROMAXx直读光谱仪
SPECTROCHECK直读光谱仪
SPECTROLAB直读光谱仪

上海市浦东外高桥保税区华京路418号杉中科技园B101-104室

amy@labgages.com

021-50473900

关于js金沙所有登入网址_js55555金沙老品牌 | 合作品牌 | 联系js金沙所有登入网址 | 网站地图

js金沙所有登入网址_js55555金沙老品牌亮照  js金沙所有登入网址_js55555金沙老品牌工信部ICP</p>
                    <script type=var a_protocol = (("https:" == document.location.protocol) ? "https://" : "http://"); document.write(unescape("%3Cspan id='a_stat_icon_5395921'%3E%3C/span%3E%3Cscript src='" + a_protocol + "s9.a.com/stat.php%3Fid%3D5395921%26show%3Dpic1' type='text/javascript'%3E%3C/script%3E"));  ©2012-2020 上海js金沙所有登入网址_js55555金沙老品牌实业
XML 地图 | Sitemap 地图