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光谱仪

光谱仪又称分光仪,以光电倍增管等光探测器测量谱线不同波长位置强度的装置。它由一个入射狭缝,一个色散系统,一个成像系统和一个或多个出射狭缝组成。以色散元件将辐射源的电磁辐射分离出所需要的波长或波长区域,并在选定的波长上(或扫描某一波段)进行强度测定。

德国菲希尔X射线荧光分析仪XDV-µ

XDV-?型系列仪器是专为在很微小结构上进行高精度镀层厚度测量和材料分析而设计的。该系列仪器均配备用于聚焦X射线束的多毛细管透镜,光斑直径(FWHM)可达10至60?m。短时间内就可形成高强度聚焦射线。

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FISCHERSCOPE ® X-RAY XDAL X射线荧光测量仪

要检查的层越薄,检测器的选择就越重要。 FISCHERSCOPE?X-RAY XDAL?系列包含几个不同的模型。 PIN检测器可用于材料分析和涂层厚度测量。 如果需要超高精度分析,则硅漂移检测器是很好的选择。

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X-RAY 5000德国菲希尔合金分析/镀层测量仪

X-RAY 5000 系列仪器采用模块化设计,可轻松集成到生产线中。例如,当必须测量大尺寸底材(如锡板)上的镀层时,X-RAY 5000 堪称理想解决方案。根据底材和镀层材料的不同,客户可按需求选配X射线源、探测器以及基本滤片。

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