几十年来,Fischer一直代表着*高质量和精度的测试仪器。他们把在测量技术领域积累的技术诀窍不仅用于测试仪器的制造,还用于测试仪器校准等相关服务。
校准常见问题 |
涂层测厚仪的校准 |
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Q: 比较测量值时应考虑哪些统计参数? A: 以下参数对于比较测量值很重要:算术平均值、标准偏差、单个测量值的数量。 如果没有相关的标准偏差和测量的数量,则无法以有意义的方式相互比较平均值。 Q: 为什么需要校准? A: 每种物理测量方法都受涂层和基体参数的影响。这些参数是:工件的几何形状、电导率、磁化率、镀层密度、测量表面等。 每次涂层或基材的这些参数发生变化时,都需要重新校准测量仪器。 Q: js金沙所有登入网址正在一块平板上校准js金沙所有登入网址的测量仪器。现在js金沙所有登入网址想测量一个小直径的曲面样品。在不进行任何进一步校准的情况下,是否可以继续? A: 不行,在平板上的校准会在曲面上引起系统上的测量误差。这意味着测量值将过大。这是因为仪器对样品(这里是曲面物体)的测量信号进行了评估,但是以平面样品进行的评估。 Q: 为什么双方会得到不同的测量结果?原因是什么? A: 计量器具的精度由校准片保证。校准须在真实、无涂层的样品上进行。此外,须注意在相同的测量位置进行测量。为了得到一个有效的平均值,进行足够多次的测量也是很重要的。 Q: 如何验证干膜测厚仪测试的校准效果? A:通过把校准箔放在样品基材上进行测量来检查校准效果。这个测量位置须要与你之后要测量的位置相同。Fischer随机配备的基材校准板并不适用于此目的。 |
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